无创稳定性测量

什么是无创稳定性测量？

用于稳定性分析的 NISM

控制环稳定性对所有系统的性能至关重要，因为它会影响所有闭环参数以及系统噪声。不幸的是，在许多情况下，特别是在电压基准、固定电压 LDO 和集成 POL 的情况下，波特图评估是不可行的，因为没有反馈回路访问该部件。在其他情况下，反馈回路难以访问，因为硬件是集成的或需要切割 PCB 走线。在其他情况下，设备要么包含多个控制回路，其中只有一个是可访问的，要么控制回路的阶数高于二阶，在这种情况下，波特图不能很好地预测相对稳定性。更复杂的是，在许多便携式电子产品（例如手机和平板电脑）中，电路非常小且人口密集，几乎没有访问控制回路元件的途径。在这些情况下，从易于访问的输出阻抗测量中得出的无创稳定性裕度 (‘NISM’) 评估是验证稳定性的唯一方法。

NISM 根据输出阻抗计算稳定性。 单击此处获取可用于测量阻抗的测试方法和设备列表。